• 2025 Paris : La cartographie analytique au MEB et à la microsonde
  
• 2025 Toulouse : Journées de printemps
  
• 2024 Paris : Comment caractériser au MEB une grande diversité de matériaux
  
• 2024 Nancy : Ecole d'été
  
• 2023 Paris : Le MEB-FIB : état de l'art, principe et applications
  
• 2023 Rouen : Journées de printemps
• 2022 Paris : Principe, apport et mise en oeuvre de l'imagerie au MEB
• 2022 Aix : Journées de printemps
• 2021 Paris : Etat de l'art en Spectrométrie EDS et WDS : Fondamentaux et développements
• 2021 visio-juin : Journée de printemps
• 2020 visio-déc : conférences constructeurs
• 2019 Paris : MEB-Analyse et Techniques complémentaires présentées par les constructeurs
• 2019 Poitiers : Journées de printemps
• 2018 Paris : Préparation des échantillons, évolution des techniques de préparation
• 2018 Lyon : Techniques avancées et in-operando en MEB
• 2017 Paris : L'image dans tous ses états, de l'acquisition au traitement
• 2017 Bordeaux : Ecole d'été
• 2016 Paris : Caractérisation chimique en MEB et microsonde - Apport de la spectrométrie WDS
• 2016 Nantes : Pré et post-traitements pour applications pluridisciplinaires
• 2015 Paris : Le MEB, un micro-laboratoire
• 2015 Nice : Le MEB, un outil d'exploration polyvalent
• 2014 Paris : La basse énergie en MEB et les microanalyses
• 2014 BRGM Orléans : MEB - Matériaux naturels et environnement
• 2013 Paris : L'analyse EBSD  Evolutions et exemples d'application
• 2013 SFC les Ulis : Les céramiques et les matériaux minéraux
• 2012 Paris : Caractérisation par faisceau d'électrons
• 2012 Lille : Ecole d'été
• 2011 Paris : Imagerie et analyses : de la 2D à la 3D. - Le MEB-FIB (faisceau dions focalisé) : principe et applications
• 2011 Strasbourg : MEB et Biologie - MEB et Techniques Annexes
• 2010 Paris : Colonnes électroniques et ioniques - Détecteurs spécifiques associés : Etat de l'art présenté par les constructeurs
• 2010 Nancy : Microscopie Electronique à Balayage et essais in-situ
• 2009 Paris : Microanalyse X quantitative : quelle fiabilité pour quelle analyse ?
• 2009 Paris : Les matériaux d'hier et d'aujourd'hui, apport de la Microscopie à Balayage et des microanalyses associées
• 2008 Paris : Expertise de la rupture et autres défaillances
• 2008 Arras : Les matériaux sub-microniques
• 2007 Paris : Préparation des échantillons pour les observations en MEB et les analyses
• 2007 Grenoble : Nouveaux développements techniques - Mesure des textures, déformations et contraintes - Imagerie 3D et reconstruction
• 2006 Paris : Techniques associées au MEB - Applications Biologiques
• 2006 Grenoble : Ecole d'été
• 2005 Paris : La microanalyse X par sonde électronique
• 2005 Caen : Dégradation et vieillissement des matériaux
• 2004 Paris : Les électrons dans le MEB
• 2004 L'Oreal Aulnay sous Bois : Microscopies et Microanalyses des matériaux mous et biologiques

Présentations de la réunion de Décembre 2025 à Paris :

Présentations de la réunion de Juillet 2025 à Toulouse :

1. Débruitage d'images en microscopie électronique à balayage sous environnement gazeux par Deep Learning - Christian MATHIEU
2. Caractérisation de poussières produites par les plasmas de tokamak - Andrea CAMPOS
3. Utilité de la Microsonde Nucléaire pour la Science des Matériaux - Stéphanie SORIEUL
4. Symposium commun : Multitechniques - approches multiphysiques - Gwénolé JACOPIN & Lucile JOLY-POTTUZ
   
5. Imagerie 3D sur échantillons biologiques en résine époxy. Ultramicrotomie en chambre - Laurence BERRY
6. Apports de la microscopie électronique en médecine légale - Céline GUILBEAU-FRUGIER
7. Etude des évolutions microstructurales des polycristaux sous sollicitations thermique, mécanique et thermomécanique par essais in situ et modélisation numérique - Pauline STRICOT
8. Imagerie mécanique haute résolution pour létude de lanisotropie élastique et plastique à léchelle de la microstructure : cas de la nanoindentation et de la corrélation d'images - Damien TEXIERA
9. Etude de la recristallisation dynamique par analyses EBSD in-situ sur lalliage de magnésium AZ31 et la glace - Fabrice BAROUL
10. Etude de clous de la période Romaine en provenance de fouilles archéologiques dans le nord de lEspagne : la contribution de lEBSD en mode environnemental - Egle CONFORTO
11. La Microscopie Électronique à Balayage en Archéométrie : Un outil incontournable - Yannick LEFRAIS
12. La microscopie électronique pour caractériser l'histoire d'échantillons géologiques - Mary-Alix KACZMAREK
13. EBSD, pourquoi, quelles limites et comment les contourner - François BRISSET

Présentations de la réunion de Décembre 2024 à Paris :

1. Les matériaux - Christian MATHIEU
2. Etude microstructurale de différentes céramiques par MEB - Marie-Eline COUTURIER
3. Préparation et observation des échantillons biologiques « mous » par microscopie électronique - Alexis CANETTE
4. Apport de la microscopie électronique à balayage à l'étude des ciments et de leur hydratation - Laurent IZORET
5. Le MEB, un outil essentiel pour le développement de nouvelles batteries - Arash JAMALI
6. Caractérisation des composites oxyde/oxyde à l'ONERA - Antoine DEBARRE
7. Caractérisation des matériaux nucléaires - Emmanuelle BRACKX
8. Les matériaux de la cosmétique caractérisés par MEB - Philippe HALLEGOT
9. Les applications de la microscopie électronique à balayage à létude des verres - Nadia PELLERIN
10. Caractérisation des polymères par MEB - Alain JADIN
11. L'imagerie au MEB des matériaux isolants - Raynald GAUVIN
12. Caractérisation des matériaux dorigine géologique : Roches et Minéraux - Omar BOUDOUMA
13. La microscopie électronique à balayage appliquée aux échantillons extraterrestres - Alice ALEON
14. L'apport de la microscopie électronique à balayage en métallurgie - Sylvain DEPINOY
15. Sonder les matériaux anciens grâce au MEB - Marie GODET
16. Altération des matériaux du patrimoine : apport de la microscopie électronique - Anne CHABAS
17. Le MEB et l'analyse de construction de dispositifs semiconducteurs de puissance, jeux de contrastes - Imène ESTEVE & Philippe MARTINEZ

Présentations de la réunion de Décembre 2023 à Paris :

1. Présentation générale du MEB-FIB - Florence ROBAUT
2. Description des différentes sources et colonnes ioniques - Frédéric CHARLOT
3. Revue historique du développement du FIB ; source d'ions à métal liquide (LMIS) - Nicholas BLANCHARD
4. Les matériaux préparés par FIB : limitations, artefacts, autres "bizarreries" et quelques solutions - Imène ESTEVE
5. Principes physiques mis en jeu au FIB, influence des conditions opératoires - Emmanuel CADEL
6. FIB 3D : applications et défis dans le domaine de la microélectronique, des énergies nouvelles et de la biologie (non diffusable) - Constantin MATEI
7. Le MEB-FIB "cryo" : un véritable couteau suisse pour le biologiste - Benoit GALLET
8. MEB FIB plasma pour l'analyse 3D de "grands" volumes (visioconférence) - Alexis NICOLAY
9. Fonctionnement d'un laser femtoseconde installé sur le sas d'introduction d'un MEB FIB - David TROADEC
10. Dépôts assistés par faisceaux d'ions et d'électrons : mécanismes et aspects pratiques - Alexandra FRACZKIEWICZ
11. Etapes dusinage FIB dun semiconducteur nitrure III-V pour lobtention de lames MET en section transverse et en section plane - Marie-Pierre CHAUVAT
12. Tomographie Tribeam (MEB-FIB-Laser) : un outil pour la reconstruction 3D de microstructures - Henry PROUDHON
13. Réalisation à l'aide du FIB de microéchantillons dans le combustible irradié - Thierry BLAY
14. Nucléarisation dun MEB-FIB pour lexpertise de composants issus de centrales nucléaires - Rémi MERCIER
15. Imagerie 3D par tomographie MEB FIB - Développements récents MEB FIB SIMS 3D - Claudie JOSSE et Teresa HUNGRIA
16. Essais micromécaniques dans un MEB-FIB - Eva HERIPRE
17. Le FIB et la sonde atomique tomographique au service de la caractérisation des joints de grains irradiés aux ions (non diffusable) - Quentin BARRES
18. Traitement d'images MEB-FIB et segmentation IA - Sabrina CLUSIAU

Présentations de la réunion de Juillet 2023 à Rouen :

1. Caractérisation des effets dun procédé expérimental dexplosion à la vapeur appliqué à des panneaux de particules - Christophe ROSE
2. Imagerie 3D ultrastructurale dédiée aux études des interactions hôte-agent pathogène - Perrine BOMME
3. SEM characterization of the cell walls in glow discharge plasma-treated wood: current and future applications - Arash JAMALI
4. Développement dexpériences operando in-situ dans un MEB : application à létude des batteries - Carine DAVOISNE
5. Li K Emissions Detection In Various Compounds Using A Reflection Zone Plate Spectrometer - Khalil HASSEBI
6. Scanning Electron Microscopy : A New Staple for Cell Biology?  - Claire BOULOGNE
7. Le couplage MEB-FIB-µRaman en conditions cryogéniques : nouvelle voie de caractérisations structurale et chimique des échantillons biologiques - Mouad ESSANI
8. Étude des carbonisats par microscopie Raman et électronique. Applications en géosciences et en archéologie - Damien DELDICQUE
9. Convolutional Neural Networks applied to EBSD maps to improve phase discriminations in steels - Mykola LAVRSKYI
10. Caractérisation métallurgique de la fissuration à la solidification de superalliages base nickel élaborés par fusion laser sur lit de poudre - Elisa BORGES MENDONÇA
11. Cathodoluminescence à haute-résolution de carbonates de chondrite: en préparation de létude déchantillon dastéroïde de OSIRIS-REX - Vincent GUIGOZ
12. Limagerie MEB au service de la (micro)-mécanique - Ronan HENRY

Présentations de la réunion de Décembre 2022 à Paris-Jussieu:

Principe, apport et mise en oeuvre de l'imagerie au MEB

1. Interactions électrons-matière - Alexandre FADEL  (Univ. Lille)
2. Les différents détecteurs d'électrons, principes - Ahmed ADDAD (Univ. Lille)
3. L'acquisition numérique de l'image MEB (divers aspects) - Nicolas HOREZAN, Quentin BARRES (ONERA)
4. Les dérives en imagerie MEB : origine et correction - Alain JADIN (CERTECH, Belgique)
5. Imagerie en environnement gazeux, principe et exemples - Christian MATHIEU, Tayeb AMRIOU (UCCS  Artois - Faculté J. Perrin - Lens)
6. Pourquoi le MEB bas voltage peut-il compétitionner avec le MET ? - Raynald GAUVIN (Univ. McGill, Québec)
7. L'imagerie chimique : comment et pourquoi ? - Denis BOIVIN (ONERA)
8. Correction des défauts de balayage, application pour la mécanique - Marc BONNET (LMPS, ENS Paris Saclay - CentraleSupélec - CNRS)
9. Techniques de reconstruction topographique à partir d'images MEB - Eva HERIPRE (PIMM, Arts et Metiers Inst. of Techn., CNRS, Cnam, HESAM Univ. 75013 Paris)
10. Dépôts de produits cosmétiques : d'un film sec sur substrat modèle à une formule hydratée à la surface de la peau - Grégoire NAUDIN (L'Oreal)
11. Les plateformes dions focalisés pour une haute résolution spatiale en spectrométrie de masse - Jean-Nicolas AUDINOT (LIST - Luxembourg Institute of Sci. and Technol.)
12. Complémentarité des imageries MEB et MET - Frédéric FOSSARD (CNRS - LEM, Chatillon)
13. Couplage de l'imagerie EDS / WDS / cathodoluminescence spectrale : apports en minéralogie et analyse des éléments-trace (Guillaume WILLE - BRGM, Orléans, Ida DI CARLO - ISTO, Orléans)
14. Le signal EBSD abordé sous tous les angles - Fabrice GASLAIN (Mines Paris, Univ PSL,Ctre des Matériaux, Evry)

Présentations de la réunion de Juin 2022 à l'ENSAM d'Aix en Provence:

1. Haute résolution en basse tension, pression variable, EDS, WDS, EBSD et TKD - Présentation du système avec des exemples - Andréa CAMPOS
2. Investigation de la compétition de grains et de la formation des défauts cristallins pendant la croissance du silicium par des méthodes in situ de diffraction X couplées à des méthodes complémentaires de microscopie électronique par EBSD (Electron Backscattered Diffraction) - Nathalie MANGELINCK-NOËL
3. Utilisation de lEBSD haute résolution (HREBSD) pour lanalyse des déformations et des contraintes - Laurent BARRALLIER
4. Lien ségrégation / recristallisation dans le cas d'alliages Fe-Si-Sn - Myriam DUMONT
5. Optimisation de conditions d'acquisition au MEB en vue de l'application de la technique de corrélation d'images numériques lors d'essais mécaniques - Jean-Patrick GOULMY
6. Mesures de propriétés mécaniques in-situ dans un MEB nucléarisé, implantation et premiers résultats sur du combustible U-Pu-O - Gauthier JOUAN
7. Etude d'avaries - Philippe COPERET
8. Usage of Scanning Electronic Microscope for Helicopter applications - Gaël MONAVON
9. Le Serial BlockFace SEM pour lanalyse ultrastructurale de grands volumes biologiques - Nicolas BROUILLY
10. Comment se lancer dans la microscopie électronique 3D avec des moyens simples - François ORANGE
11. Apport des techniques MEB/EDS et microscopie numérique pour létude de désordres matériaux dans le cadre de différentes expertises - Céline MERLATTI
12. MEB et microanalyse appliqués à l'étude de l'oxydation des gaines en alliage de zirconium - Christian DURIEZ
13. Furna SEM 1300 - Nouvelles perspectives en MEB à haute température - Renaud PODOR
14. Mesure de propriétés thermodynamiques de nanofils à l'aide d'un MEB - Clément CHARDIN, Sébastien PAIRIS

Présentations de la réunion de Décembre 2021 à Paris-Jussieu:

Etat de l'art en Spectrométrie EDS et WDS : Fondamentaux et développements

1. Principe de l'émission X et de la spectrométrie EDS. Traitement des spectres et analyse quantitative en EDS - Sébastien PAIRIS
2. Résultats des analyses X de l'échantillon test - Jacky RUSTE
3. STEM-EDS sur échantillon mince et Microanalyse du Li - Raynald GAUVIN
4. Résolution latérale en microanalyse EDS/WDS - Mikael PERRUT
5. Analyse d'échantillons stratifiés - Florence ROBAUT
6. Contrôle de la qualité de synthèse dun polymère par EDS - François ORANGE
7. Analyse EDS sur échantillon massif à mince par la méthode des zêta facteurs corrigée du Æ(Áz) (code IZAC) - Eric ROBIN
8. Analyse quantitative EDS : quelques biais liés à la correction dabsorption et lémission délocalisée de RX par les électrons diffusés à grand angle. Un exemple : Si/TiN/HfO2/TiN - Philippe BUFFAT
9. Exemple dutilisation dune caméra CCD à sélection dénergie (color camera) - Philippe JONNARD
10. Technologie WDS + SXES et développement des détecteurs à réseaux - Jean-Louis LONGUET
11. L'analyse EDS en mode VP - Christian MATHIEU
12. Analyses quantitatives comparées (fluorescence X, EDS, WDS) - Ida DI CARLO
13. EDS ou WDS ? Avec ou sans témoins ? Quelle méthode pour quel besoin en microanalyse ? - Guillaume WILLE
14. Sources d'erreur en analyse X (optimisation des conditions opératoires) - Denis BOIVIN
15. Statistique, calcul d'erreur, de limite de détection, d'intervalle de confiance en analyse X - Emmanuel CADEL

• Vidéo de l'Assemblée Générale 2020-21 (François BRISSET & Christine GENDARME)

• Méthodologie pour le dosage du carbone et de lazote dans les aciers (Philippe VOLCKAERT)
• Caractérisations mécaniques et électriques in-situ au MEB (Fabien VOLPI)
• Le MEB-FIB: un microlaboratoire de mécanique (Eva HERIPRE)
• Microanalyse X des échantillons non conventionnels : cas des microparticules (Mouad ESSANI)
• Apport de lEBSD pour lanalyse de stabilité en température de Nickel à grains ultra fins (Vladimir ESIN)
• Reconstruction des grains parents à partir de donnée EBSD - Application à létude du Ti-6Al-V élaboré par fabrication additive (Caroline WIDOMSKI, Denis SOLAS)

• JEOL : Une nouvelle gamme de microscopes électroniques à balayage.
• TESCAN : Apport de la dernière génération des MEB-FIB plasma TESCAN sur la caractérisation de vos matériaux à différentes échelles : exemple sur un échantillon dolivine. Rediffusion de la visio (jusqu'au 30/09/2021)
• GATAN : Préparation ionique pour observations MEB & analyses EBSD.
• OXFORD INST : Combinaison ECCI et EBSD HR dans létude de grains de WC.
• ZEISS : Un nouveau membre dans la famille Gemini : Le Gemini 3.
• THERMO FISHER : Results in a snap  overview of the newest SEM and DualBeam technologies.
• SCIENTEC : Nettoyeurs Plasma Tergeo et EM-KLEEN et le Polisseur ionique CP-8000. (fichier ppsm)
• EDAX : Solution EDAX pour toutes les cartographies EBSD : rapidité et sensibilité.
• EDEN INST : Essais mécanique et chauffant, in-situ - Envoyer mail à alex.delamoreanu@eden-instruments.com pour voir les vidéos.
• MILEXIA : Technique innovante de détection des électrons transmis dans le MEB - Polisseur ionique hybride.
• ORSAY PHYSICS : CHORD ou comment obtenir des cartes dorientations cristalline à laide du contraste de canalisation des électrons ou des ions. Rediffusion de la visio (jusqu'au 30/09/2021)

• Présentation prochaine opération "Echantillon test" (Jacky RUSTE)
• Microscopie à rayons X, tomographie - ZEISS (Nicolas GUENINCHAULT)
• Dureté - BUEHLER (Geoffrey CHATELAIN/ Fabrice COSTE CHAREYRE)
• Métalliseur - SCIENTEC (Didier PELLERIN)
• Microscope digital d'inspection - FRANCE SCIENTIFIQUE (Pierre FORESTIER)
• SXES low kV Xray - JEOL (Jean-Claude MENARD)
• Platine traction - platine chauffante - NEWTEC (Antoine CANDEIAS)
• TOF-SIMS - TESCAN (David BARRESI)
• Raman in-situ dans le MEB - WITEC (Maxime TCHAYA  NJANTIO)
• Petits accessoires MEB - DELTA MICROSCOPIES (Samia SOUAÏ)
• Orientation dans le MET - ELOISE (Stavros NICOLOPOULOS)
• Nano-indenteur - EDEN INSTRUMENTS (Alexandre DELAMOREANU)
• XPS - THERMO FISHER (Richard WHITE)
• Fluorescence X - SYNERGIE4 (Philippe LASSON)
• Sonde atomique - CAMECA (Anna BUI)
• AFM - OXFORD INSTRUMENTS (Julien LOPEZ)
• Profilométrie - MILEXIA (Maxime GUERINEAU, Thierry GRENUT))
• Couches minces - SAMX PLUS (Marc LALANDE)
• Cathodoluminescence - GATAN (Daniel MONVILLE)
• Glow Discharge avec détection OES ou TOF-MS - HORIBA (Agnès TEMPEZ)

• Imagerie 3D Raman et FIB dans le MEB: une nouvelle méthode pour la caractérisation minérale et morphologique de lamiante environnementale,  Guillaume WILLE, BRGM, Orléans
• Cryo-MEB en biologie - Cryo-préparations en mode Pression Contrôlée - Applications en recherche forestière., Christophe ROSE, INRA Nancy, Champenoux
• Les premières roches du système solaire au microscope électronique, Alice ALEON TOPPANI, Institut Astrophysique Spatiale, Univ. Orsay
• Préparation et observation de composite de ciment de phosphate de calcium injectable, ciment + sang. Révélation de la structure organique, François-Xavier LEFEVRE, Université de Nantes
• Imagerie, EDS et EBSD en mode environnemental: étudesde matériauxnon-conducteurs, humides et gras, Egle CONFORTO, LaSIE, Université La Rochelle
• Verres, vitrocéramiques et céramiques à base de TeO2: compréhension des phénomènes ordre-désordre, Gaelle DELAIZIR, IRCER, Université de Limoges
• Le démouillage de couches minces d'argent observé par MEBE à haute température, Joseph LAUTRU, CEA Marcoule
• Lutilisation du MEB-EDS-EBSD pour les caractérisations métallurgiques et lanalyse des modes de rupture assistée par lhydrogène dalliages métalliques, Abdelali OUDRISS, LaSIE, Université La Rochelle
• Plasticité de micro-piliers dInSb : effet de taille et transition fragile-ductile, Florent MIGNEROT, Université de Poitiers
• Détection de traces de composés toxiques résiduels dans des poudres céramiques oxydes, Jean-Louis LONGUET, CEA Le Ripault
• Etudes structurales MEB/MET dhétérostructures coeur coquilles à base de nanofils de ZnO pour lopto-électronique, Laetitia RAPENNE, INP,LMGP Grenoble
• Développement dalliages par létude de couples de diffusions : couplage de cartographies spectrales et danalyse dimage, Antoine LACOUR-GOGNY-GOUBERT, ONERA, Chatillon
• Etude de composites Al/w-Al-Cu-Fe : Mécanismes de formation de la phase w-Al-Cu-Fe et caractérisation des propriétés mécaniques de la matrice Al, Véronique GAUTHIER, Université de Poitiers
• Microstructure et propriétés mécaniques de composite Cu/C fabriqué par méthode solide-liquide, Anne JOULAIN, Université de Poitiers

• La manipulation et le stockage des échantillons - Christian MATHIEU, Université d'Artois
• Découpe d'échantillons durs et massifs - Florence ROBAUT, SIMaP, CMTC, Grenoble INP
• Les 60 ans de la microsonde et autres anniversaires - Jacky RUSTE
• Applications des techniques de polissage mécanique au MEB et à la microanalyse - Guillaume WILLE, BRGM, Orléans
• Enrobage à froid  Etude de la relaxation de contraintes et du retrait après polissage - Marie-Eline COUTURIER, SFC, Les Ulis
• "Plasma FIB" : principes et applications - Guillaume AUDOIT, CEA-Minatec, Grenoble
• La métallisation : but, mises en Suvre et limitations - Fabrice GASLAIN, Mines ParisTech, Evry
• Préparations d'échantillons pour microscopie analytique de 1 à 30 keV - Raynald GAUVIN,  McGill University, Montréal, Canada
• Le marquage de surface au service de la Corrélation d'Image - Alexandre TANGUY, LMS, Polytechnique, Palaiseau
• Préparation des polymères - Alain JADIN, CERTECH, Seneffe, Belgique
• Préparation des poudres pour le MEB et la microanalyse - Guillaume WILLE, BRGM, Orléans
• Nouvelle approche d'acquisition des données de macle de la calcite sous EBSD - Camille PARLANGEAU, LMS, Polytechnique, Palaiseau
• Microscopie électronique et granulométrie d'une matrice complexe - Philippe HALLEGOT et Stéphane AMBERT, L'Oreal R&I, Aulnay-sous-Bois
• Préparation d'échantillons complexes et hydratés - Imène ESTEVE, IMPMC, Sorbonne Université, Paris
• Méthodes conventionnelles de préparation d'échantillons en microscopie électronique pour la biologie - Alexis CANETTE, UPMC, Paris
• Cryométhodes en microscopie électronique pour la biologie - Michael TRICHET, UPMC, Paris
• Retouche numérique d'images : recherche d'un certain "esthétisme" en Microscopie Electronique à Balayage - Stephan BORENSZTAJN, Institut de Physique du Globe, Paris
  
  

• Présentation du GN-MEBA - François BRISSET (ICMMO, Univ Paris Sud)
• Présentation de RéCaMiA - France SIMONET (IrceLyon)
• Vue d'ensemble du paysage lyonno-stéphanois en microscopie - Karine MASENELLI-VARLOT (MATEIS, INSA Lyon)
• Mode STEM en SEM : études 2D / 3D de liquides - Karine MASENELI-VARLOT (MATEIS, INSA Lyon)
• Modes avancés de microscopies pour l'étude du comportement haute température d'un alliage de Ni utilisé en industrie pétrochimique - Nicolas VACHE (MATEIS, INSA Lyon) 
• Décélération de faisceau en MEB - Sylvie DESCARTES (LaMCoS, IMP INSA Lyon)
• EBSD en mode pression variable: un exemple d'application pour l'étude de biomatériaux - Andrea CAMPOS (CP2M - Centre Pluridisciplinaire de Microscopie électronique et de Microanalyse, Aix-Marseille Univ.)
• Crystallographic Orientation Maps Obtained from Ion and Backscattered Electron Channeling Contrast - Clément LAFOND (MATEIS, INSA Lyon) 
• FIB suivi de micro essais dans un SEM sur couches DLC - Sergio SAO-JOAO (LGF, EMSE, Saint-Etienne) 
• Développement dun essai micromécanique in-situ en température dans un MEB sur un alliage de magnésium pour quantifier les hétérogénéités de déformation plastique - Thibaut DESSOLIER (SIMAP, Grenoble)
• Influence de l'argent sur les propriétés multi-fonctionnelles des couches minces verres métalliques Zr-Cu sur leur activité antibacterienne - Galy N'KOU BOUALA (MATEIS, INSA Lyon)
• Oxydation in situ de différents matériaux dans un MEB - Renaud PODOR (ICSM, CEA Marcoule) 
• Etude de la dynamique des dislocations de monocristaux de cuivre sous chargements cycliques : émission acoustique et caractérisation microstructurale - Gabriel L'HOTE (MATEIS, INSA Lyon) 
• Mode STEM en SEM: de l'imagerie chimique à l'imagerie des dislocations - Sophie CAZOTTES (MATEIS, INSA Lyon)
• Reconstruction 3D FIB - Pierre-Henri JOUNEAU (INAC, CEA Grenoble)
• Application de la nano-tomographie FIB/SEM à létude des propriétés électriques des batteries Lithium-ion - François CADIOU (MATEIS, INSA Lyon) 
• ¼-usinage FIB de poutres de céramiques avancées et nanosollicitation -Ronan HENRY (MATEIS, INSA Lyon) - Conférence annulée -

• Images, vision et couleur& de lSil à limage numérique (Jacky RUSTE, GN-MEBA - Microscopie Icaunaise)
• Acquérir une image dans le MEB, optimiser l'acquisition (Guillaume WILLE, BRGM, Orléans)
• Reconstruction quantitative 3D de surface à partir dimages BSE multidétecteurs. (Jan NEGGERS, LMT - ENS Paris-Saclay)
• Reconstruction 3D de microstructures polycristallines, approche destructive par coupes successives vs non destructive par tomographie X (Henry PROUDHON, Centre des Matériaux - Mines ParisTech, Evry)
• Vision par ordinateur et application à la MEB (Guy Le BESNERAIS, ONERA/DTIS - Chatillon)
• ImageJ : Découverte d'un outil polyvalent en imagerie (Jean-Claude MENARD - AHEAD Microscopy)
• Cartographie spectrale : Du principe à sa réalisation et son exploitation (Denis BOIVIN, ONERA - Chatillon)
• Quelques éléments pour exploiter les images numériques du MEB (Jean-Marc CHAIX, Grenoble INP - SIMAP)
• Les grandes images : problématiques et perspectives (Philippe FINKEL, CANTOR, Serge RIAZANOFF, VisioTerra)
• Un bon coup de balai : Imperfections de balayage en MEB (Marc BONNET, LMT - ENS Paris-Saclay)
• Calcul des incertitudes de mesures dimensionnelles en MEB (Philippe VOLCKAERT, Bureau Veritas - Talence)
• Contributions de la microscopie électronique aux stratégies du biomimétisme (France BOURELY JACZYNSKI, LNMC EPFL Lausanne)- site web: http://www.micronaut.fr/
• Stratégies d'analyses d'images multi-spectrales à partir de cartographies élémentaires  rapides au MEB pour la segmentation et la quantification de phases minéralogiques: principes et applications aux matériaux de construction (Samuel MEULENYZER, Lafarge LCR Lyon)
  
  

• La spectrométrie par dispersion de longueur donde WDS, Introduction (Jacky RUSTE, GN-MEBA)
• Comment travailler en WDS quand on vient de lEDS ? Les différences, les similitudes, etc. (Christine GENDARME, Institut Jean Lamour, Université de Lorraine, Nancy)
• Comment analyser un échantillon en WDS ? Les différentes étapes (Marie-Eline COUTURIER, Société Française Céramique, Les Ulis)
• Les technologies WDS en faisceaux parallèle et convergent (Florence ROBAUT, Université Grenoble Alpes, CNRS, SIMaP; CMTC, Grenoble INP)
•  Microanalyse WDS: du signal détecté au k-ratio (Guillaume WILLE, BRGM, Orléans)
• La dispersion du rayonnement X : cristaux et réseaux (Philippe JONNARD, UPMC, Paris)
• WD-XRF en cosmétique (Philippe HALLEGOT, L'Oreal Recherche Aulnay-sous-Bois)
• Couplage EDS / WDS en MEB et applications (Denis BOIVIN, Onera, Chatillon)
• Quantification en EDS et WDS: aspects pratiques (Andrea CAMPOS, CP2M, Université Aix Marseille)
• Comparaison WDS en MEB et microsonde (Fabrice GASLAIN, Centre des Matériaux, MINES Paristech, Evry)
• Intérêt des sources FEG en microsonde électronique (Emmanuelle BRACKX, CEA Marcoule)
• Contribution de la microsonde électronique à la caractérisation des couches minces (Alexandre CRISCI, Université Grenoble Alpes, CNRS, SIMaP)
• Analyses sur des matériaux assez exotiques (Gauthier JOUAN, CEA Marcoule)
• Cartographie élémentaire des mineurs et traces pour comprendre lhistoire de cristallisation des roches métamorphiques (Benoît DUBACQ, Camparis UPMC, Paris)
• Ech test : résultats des tests et un regard spécial pour le WDS (Jacky RUSTE, GN-MEBA)

Présentations de la réunion de Juin 2014 au BRGM Orléans  :

MEB - Matériaux naturels et environnement

• Mot d'accueil et présentation du BRGM (Hervé GABORIAU - BRGM, Orléans)
• Grande et petite(s) histoire(s) de la microanalyse appliquée aux géosciences  (Guillaume WILLE - BRGM, Orléans)
• Cartographie élémentaire à la microsonde électronique des mineurs et traces pour comprendre lhistoire de cristallisation des roches métamorphiques (Michel FIALIN - UPMC, Paris)
• Les éléments traces dans les roches métamorphiques. Intérêt, analyse, modélisation (Benoît DUBACQ - UPMC, Paris)
• Couplage de techniques microscopiques et spectroscopiques pour létude de lhistoire thermique dun contexte géologique (Abdeltif LAHFID - BRGM, Orléans)
• FIB et matériaux naturels (Imène ESTEVE - IMPMC, Paris)
• Modélisation d'un procédé de traitement d'un gisement à l'aide d'un MEB couplé au logiciel Qemscan (Simon BLANCHER - ERAMET Research, Service minéralogie - 78190 Trappes)
• Caractérisation de microparticules environnementales par MEB-EDS automatisé (Karine DEBOUDT Université du Littoral Côte dOpale, Laboratoire de Physico-Chimie de lAtmosphère -LPCA, EA 4493- 59140 Dunkerque) -visioconférence-
• Etude morphologique de matériaux biosourcés en vue d'applications industrielles (Suzanne JACOMET - CEMEF, Mines ParisTech, Sophia-Antipolis)
• Application du MEBE-EDS au cément dentaire. Réflexion sur les appositions annuelles en tant qu'archive biologique et sur les perspectives en anthropologie (Lucile GEANT-CAPARROS - Laboratoire d'Analyses Physiques et de Caractérisation des Matériaux, Direction de l'Archéologie, Communauté d'Agglomération du Douaisis, Douai) -annulation pour cause de grève SNCF-
• Spéciation de l'uranium dans des particules micrométriques par spectrométrie micro-Raman et microscopie électronique à balayage (Fabien POINTURIER - CEA DAM DIF, Arpajon)
• La pollution atmosphérique et les plantes; intérêt de la microscopie électronique à balayage couplée à la microanalyse X (Didier LETHIEC - INRA Lorraine - UMR EEF 54280 Champenoux)
• Microanalyse X de l'azote dans les tissus végétaux (Christophe ROSE - INRA Lorraine - UMR EEF - PTEF  54280 Champenoux)
• Quand un chirurgien-dentiste rencontre un MEB (Anne-Sophie VAILLANT-CORROY - Université de Lorraine, Faculté dOdontologie, CHU Nancy - Doctorante Institut Jean Lamour, Nancy)
• Amiantes S.L. et amiantes S.S. - Apports du MEB dans la caractérisation des fibres asbestiformes (Didier LAHONDERE - BRGM, Orléans)
• Dégâts dirradiation : conséquences sur la microanalyse des fluor-apatites ( Ida DI-CARLO - ISTO-CNRS, Orléans)

Présentations de la réunion de Novembre 2013 à Paris - Jussieu  :

L'analyse EBSD  Evolutions et exemples d'application

Présentations de la réunion de Juin 2013 à la SFC Les Ulis  :

Les céramiques et les matériaux minéraux

• Présentation de la SFC par S. Auclerc (responsable du LC2M)
• Il était une fois la céramique - Généralités et petit historique, Marie-Eline COUTURIER, SFC les Ulis
• Caractérisation de matériaux argileux par microscopie électronique à balayage, Claire PEYRATOUT, CEC  GEMH, Limoges
• Faïences égyptiennes: cas de la porte du palais de Séthi 1er à Qantir, Patrice LEHUEDE, Centre de Recherche et de restauration des Musées de France
• Application de techniques de microanalyse pour la caractérisation de combustibles céramiques nucléaires irradiés, Stephan BRÉMIER, Euratom, Karlsruhe, Germany
• Matériaux céramiques et réfractaires : compréhension du comportement à lapplication grâce à la microanalyse par microsonde. Céline WISS, Saint-Gobain CREE, Cavaillon
• Observation de composites hydrogel-céramique par microscopie électronique à balayage en pression variable, David MOREAU, Centre des Matériaux, Mines Paristech, Evry
• Rupture des matériaux fragiles, fractographie des verres et vitro-céramiques, Odile FRABOULET, Corning Avon
• Dégradation des barrières thermiques EB-PVD par des dépôts polluantstype CMAS, Marie-Hélène  VIDAL-SETIF,  ONERA Chatillon
• Les oxydes de structure pyrochlore comme céramiques nucléaires, Gaël SATTONNAY, Université Paris-Sud
• Apport de la microscopie à la compréhension de la construction des dépôts élaborés par projection plasma, Alain DENOIRJEAN, CEC  SPCTS, Limoges  
• Corrélation entre microstructure et propriétés otiques de céramiques transparentes par microtomographie FIB, Lucile LALLEMANT, ONERA Chatillon et Thierry DOUILLARD, Mateis/Clym Lyon
• Evaluation de la résistance à la corrosion de briques réfractaires MgO-C, Marie-Eline COUTURIER, SFC les Ulis
• Coupling cryo-SEM, confocal microscopy and Brownian Dynamics simulations, Fabrice ROSSIGNOL, CEC  SPCTS, Limoges
• Analyse de céramiques traditionnelles en microsonde, Camille LABROSSE, SFC les Ulis  

Présentations de la réunion de Décembre 2012 à Paris - Jussieu  :

Caractérisation par faisceau d'électrons

• Principe de l'émission X (Philippe Jonnard, UPMC Paris)
• Lancement du circuit d'inter-comparaison d'analyse EDS et WDS (Jacky Ruste, GN-MEBA)
• Les détecteurs EDS : technologie, principe de fonctionnement, évolution (Laurent Maniguet, CMTC Grenoble)
• Les spectromètres WDS - aspects technologiques, faisceau convergent  (Guillaume Wille BRGM Orléans)
• Les spectromètres WDS - aspects technologiques, faisceau parallèle (Florence Robaut, CMTC Grenoble)
• Analyse EDS : traitement des spectres (Christine Gendarme, IJL Nancy)
• Analyse WDS : traitement des spectres, analyse X quantitative (Jacky Ruste, GN-MEBA)
• Source FEG en spectrométrie WDS : apports et limitations (Sandrine Mathieu, Univ. Nancy)
• Analyses dindices matériels par MEB/EDX au profit des enquêtes judiciaires (Thierry Dodier, IRCGN, Rosny/Bois)
• Analyse de couches minces par WDS, corrélation à lanalyse Auger) (Frédéric Christien, Polytech Nantes)
• Cartographies (quantitative, spectrale, de phases&) : principes, apports, fiabilité, utilisations (Fabrice Gaslain, Mines ParisTech Evry)
• Microfluorescence X dans le MEB : principe, apports, comparaison avec l'EDS (Mathias Procop, IFG Institute Berlin)
• Cathodoluminescence dans le MEB (Pierre-Marie Coulon, CRHEA Sophia-Antipolis)
• Tomographie X dans le MEB (Pascal Gounet, ST Ericsson Grenoble)
• Couplage MEB-Raman : principe, technologie, applications (G. Wille, BRGM Orléans)
• EBSD : principes généraux, courant et vitesse dacquisition. (François Brisset, Univ.Paris-Sud, Orsay)
• Table ronde

Présentations de la réunion de Décembre 2010 à Paris :

Colonnes électroniques et ioniques - Détecteurs spécifiques associés : Etat de l'art présenté par les constructeurs

• Histoire de la microscopie électronique à balayage - Jacky RUSTE (GN-MEBA), François GRILLON (ENSMP)
• Microscopes conventionnels EVO, derniers développements - Laurent VET (Carl Zeiss)
• Microsonde Cameca : la colonne électronique - Michel OUTREQUIN (Cameca)
• Microsonde de Castaing, pourquoi nous en avons toujours besoin? spécificités par rapport aux EDS, nouvelles possibilités de la microsonde à effet de champ - Jacky LARNOULD (Jeol)
• Nouveaux développements en microscopie électronique à balayage haute résolution à très basses énergies - Thierry GRENUT (Elexience)
• Technologies pour la microscopie électronique à balayage de résolution sub-nanométrique à haute et basse tension - Laurent ROUSSEL (FEI Eindhoven)
• Voir l'inaccessible de manière naturelle : Colonne FEG et détecteurs, TESCAN Mira3, InBeam, LVSTD - David BARRESI (Eloïse SARL)
• Les évolutions de la colonne GEMINI, Smaïl CHALAL (Carl Zeiss)
• Microscopie électronique à balayage en transmission : contraintes et solutions pour l'imagerie en très haute résolution - Thierry GRENUT (Elexience)
• Technologies de l'ESEM, ses détecteurs et dernières nouveautés - Michel TRENTIN (FEI)
• Le ClairScope" : MEB Atmosphérique, un outil de microscopie corrélative photonique-électronique - Franck CHARLES (Jeol)
• FIB FEG / Xbeam: présentation des colonnes et des détecteurs - Jean-Claude MENARD (Carl Zeiss)
• Utilisation d'un FIB-SEM pour la préparation très rapide d'échantillons pour l'observation ultra haute résolution ou pour l'imagerie 3D - Laurent LOOS (Elexience)
• Technologie et dernières avancées liées aux systèmes à faisceau d'ions focalisés FEI - Laurent ROUSSEL (FEI)
• Orion Helium-ion-microscope (HIM) : Perspectives en Microscopie à Balayage - Jean Claude MENARD (Carl Zeiss)

Présentations de la réunion de Juin 2010 à Nancy  :

Microscopie Electronique à Balayage et essais in-situ

• Présentation de l'Institut Jean Lamour
• Etude in-situ de la propriété d'auto-cicatrisation à haute température d'un composite verre-particules métalliques, Renaud PODOR, CEA Marcoule
• Microscopie environnementale à haute température : de l'intérêt de l'approche in-situ en temps réel pour la compréhension des phénomènes de frittage et d'oxydation des films minces, Lucie JOLY-POTTUZ, INSA, Lyon
• Etude des mécanismes de la recristallisation par couplage EBSD/platine chauffante in-situ. Applications : alliage de zirconium et de tantale, Suzanne JACOMET, Ecole des Mines de Paris, Sophia-Antipolis
• Suivi in-situ du frittage d'une céramique par MEBE à 1400°C, Johann RAVAUX, CEA Marcoule
• Récentes avancées dans les techniques de caractérisation de la microstructure des polymères, Karine MASENELLI VARLOT, Agnès BOGNER, INSA, Lyon
• Quelques aspects pratiques de la microscopie environnementale : manipulations in-situ, Raphaël PASSAS, Pagora, Grenoble
• Etude in-situ de la déshydratation de composés organométalliques, Henri-Pierre BRAU, CEA Marcoule
• Mise en évidence de la croissance de whiskers en microscopie électronique à balayage, Agnès LINA, EDF, Moret sur Loing
• Un laboratoire dans la chambre du microscope, Christian MATHIEU, Université d'Artois, Lens
• Essais mécaniques et mesures de champs cinématiques sous MEB, Eva HERIPRE, Ecole Polytechnique
• Essais mécaniques in-situ avec analyses micrographies et EBSD pour l'identification des mécanismes cristallographiques de glissement dans les monocristaux métalliques, Lu Tuan LE, LPMTM Paris 13
• Endommagement volumique et comportement mécanique vrai intrinsèque d'un polypropylène choc, Marc PONCOT, IJL, Nancy
• Platine de traction in-situ : l'émergence des bandes de glissement dans le nickel et l'aluminium, Egle CONFORTO, FR-EDD, La Rochelle
• Etude expérimentale et simulation numérique des mécanismes de plasticité du zirconium-a, Cyril LEBON, CEA Saclay
• Etude de la transformation martensitique et de la rupture fragile dans les aciers 304 et 16MND5 au cours d'essais de traction in-situ à basses températures, Raphaël PESCI, ENSAM Arts et Métiers, Metz
• Utilisation des techniques du froid (cryo-fracture et platine à effet Peltier) et de la pression contrôlée pour l'observation et l'analyse X d'échantillons biologiques, Christophe Rose, Didier LE THIEC, INRA, Nancy
• Mise en oeuvre des polymères via lithographie électronique et nanoimprint, Pierre-Olivier MOUTHUY, Université de Louvain
• Lithographie électronique : principe et application aux nanostructures magnétiques, François MONTAIGNE, Institut Jean Lamour, Nancy

Présentations de la réunion de Décembre 2009 à Paris :

Microanalyse X quantitative : quelle fiabilité pour quelle analyse ?

• Les principes de l'analyse quantitative - Comment effectuer une bonne analyse ? Rappels sur les méthodes de quantification, Jacky Ruste, GN-MEBA
• Les sources d'erreurs et d'incertitudes, Claude Merlet, Univ Montpellier
• Les sources d'erreurs sur les paramètres fondamentaux, Marie-Christine Lepy, CEA Saclay
• Exemples d'erreurs liés aux coefficients d'absorption, Lahcen Khouchaf, Ecole des Mines de Douai
• EDS : fiabilité de l'analyse sans témoin, Denis Boivin, ONERA Chatillon
• Microanalyse X sous pression contrôlée, Christian Mathieu, Univ. D'Artois, Lahcen Khouchaf, Ecole des Mines de Douai, Monique Repoux, ENSMP Sophia-Antipolis
• Analyse des rayonnements de faible énergie, Philippe Jonnard, Univ. Pierre et Marie Curie, CNRS
• Résolution spatiale de la microanalyse, influence de la tension d'accélération, du rayonnement X et de l'absorption, Jacky Ruste, GN-MEBA
• Sources d'erreurs liées à l'échantillon, François Brisset, Univ. Paris Sud 11, CNRS
• Cas des échantillons stratifiés : méthode et limites, Claude Merlet, Univ Montpellier
• Microanalyse X sur échantillons isolants, Jacques Cazaux, Univ. Reims
• Traitement statistique des données, Jean-Louis Longuet, CEA Le Ripault
• Contrôle et calibration en EDS et WDS, Christine Gendarme, Institut Jean Lamour, Nancy
• Les normes en analyse quantitative, Florence Robaut, CMTC, Grenoble
• Présentation des résultats sur échantillon test, Jacky Ruste, GN MEBA
• Circuit d'intercomparaison sur SiC, Jean-Louis Longuet, CEA Le Ripault
      
  
• Présentation du livre "Les isolants" par Claude LeGressus
• Enquête sur les MEB, Monique Repoux, ENSMP Sophia-Antipolis

Présentations de la réunion de Juin 2009 à Paris :

Les matériaux d'hier et d'aujourd'hui :  apport de la Microscopie à Balayage et des microanalyses associées.

1- Métaux

•  Influence d'un traitement thermomécanique complexe sur les évolutions microstructurales et les propriétés élastiques et acoustiques associées dans le cas d'un alliage de cuivre utilisé dans la fabrication d'instruments de musique ( Brigitte BACROIX, LPMTM)
• Les microscopies au service du patrimoine : études de cas traitées au laboratoire EDF-Valectra (Emmanuelle PONS, EDF R&D)
• Utilisation du MEB dans l'étude de la solidification d'alliages (Dominique DALOZ, Institut J. Lamour, Nancy)
• Les aciers damassés décryptés (Madeleine DURAND-CHARRE, SIMAP-Grenoble)

2- Minéraux

• Utilisation de la microstructure comme critère d'identification du procédé de fabrication des verres anciens opacifiés aux antimoniates de calcium (Sophia LAHLIL, laboratoire du Centre de Recherche et de Restauration des Musées de France, Paris)
• Microscopie électronique et géosciences : de l'origine de la terre à sa préservation (Guillaume WILLE, BRGM)
• Applications de la microanalyse à létude des météorites ( Albert JAMBON, laboratoire Magie, Paris)
• Minéralogie quantitative (MLA) : application au minerai de manganèse (Emilie BAILLET, CRT - Trappes)

3- Vivant

• Structures photoniques multiéchelles naturelles (Serge BERTHIER, Institut Des Nanosciences,-Paris 7
• La microscopie et le développement d'un produit cosmétique ( Sylvie MARULL, Centre de Recherche Yves Rocher)
• Application du MEB à pression contrôlée et de la microanalyse X à la détection de la tuberculose osseuse (Jean DÜRR, Lahcen KHOUCHAF, Douai)
• Microscopie électronique et carpologie (Erwan MESSAGER, Maison de l'Archéologie et de l'Ethnologie Nanterre - Brigitte DENIAUX, Musée de Tautavel)

4- Développements

• Apport de la microscopie électronique à balayage couplée à l'interférométrie à lumière blanche lors de l'étude de revêtements anticorrosion à base de polymères dopés (Claire ARNOULT, CRP Luxembourg)
• Formation de précipités d'argent après recuit à l'air de films minces à base d'oxydes (PIERSON Jean-François, Institut J. Lamour, Nancy)
• Apport de la microscopie électronique à l'étude des électrodes composites de batteries au lithium (Philippe MOREAU, ST2E Nantes)
• Les techniques microscopiques pour l'identification de l'origine de pertes de performance dans des cellules photovoltaïques à basse de CIS (Veronica BERMUDEZ, IRDEP, Chatou)
• Apport de la Microscopie Electronique à Balayage pour la conception d'aile de microdrone (Agnès LUC-BOUHALI, Onera)

5- Microscopis alternatives

• Tomographie atomique laser et Nanosciences (Didier BLAVETTE, GPM, Rouen)
• MEB - STEM et applications biologiques (François GRILLON, ENSMP, Philippe HALLEGOT, L'Oréal)
• Complémentarité des cartographies d'orientation au MET et en EBSD au travers de quelques exemples d'étude de dégradations observées dans les matériaux pour le nucléaire ( Laurent LEGRAS - EDF R&D)
• Spectroscopie Raman et nano-structures (Maximilien CAZAYOUS, MPQ, Paris 7)

Présentations de la réunion de décembre 2008 à Paris :

Expertise de la rupture et autres défaillances
     Exposé introductif : sollicitation mécanique, mécanique de la rupture (Jacky Ruste, GN-MEBA)
     L'analyse de défaillances dans le ferroviaire (Philippe Feraud, Agence d'essai ferroviaire SNCF)
     Expertise d'aubes de turbines à combustion (Frédéric Delabrouille, Laurent Legras, EDF R&D)
     La datation de fissures sur éléments de structure d'avion, apport du MEB-FEG (Frédéric Masgrangeas, VERITAS, Laboratoire Pessac)
     Propriétés d'endommagement de films de nitrure de titane et d'aluminium ...  (texte) (Marie-Hélène Tuilier, Univ.Hte Alsace)
     Identification des mécanismes de rupture sur des soudures par point de friction malaxage (Sandrine Bozzi, ICMMO/LPCES, Univ.Paris Sud)
     Défaillance des connecteurs automobiles (Florence Lestrat, Renault Guyancourt)
     Dégradation des matériaux du bâtiment : fissuration, perméabilité, microstructure (Sylvine Guedon, LCPC, Paris)
     Etude par microscopie électronique à balayage du comportement mécanique du cheveu ... (Philippe Hallegot, l'Oreal Recherche)
     Evaluation de la microporosité du tissu osseux sous contraintes par microtomographie synchrotron (Aymeric Larrue, CREATIS/ESRF)
     Outils diagnostiques et exploratoires, perspectives en ostéo-archéologie (William Devriendt, Direction de l'Archéologie - Douaisis)
     Rupture dans les matériaux composites (Anthony Bunsell, CDM - MinesParisTech, Evry)
     L'application de l'analyse fractographique en expertise de pièces composites (Benoit Poitou, CETIM Nantes)
     Etude structurale des phases siliceuses: diagnostic de la défaillance du béton (Amine Hamoudi, Ecole des Mines de Douai)
     Rôle de la rugosité interfaciale dans l'endommagement des barrières thermiques (Martine Poulain, ONERA-DMSM)
   

Présentations de la réunion de mai 2008 à Arras :

Les matériaux sub-microniques
     Introduction aux nanomatériaux (E. Gaffet - UTBM)
     Les différentes techniques d'observation (J.Ruste - meba)
     Les nanotubes de Carbone : Pourquoi suscitent-ils autant d'intérêts ? (S.E.-Védrenne - Polytechnique, Palaiseau)
     Cathodes patchwork de dimension nanométrique (V. Semet - LPMCN, Lyon I)
     Imagerie de matrices d'alumine nanoporeuse supportées (G. Julié - IEF, Paris XI)
     MEB et microanalyse: applications en catalyse hétérogène (L. Sorbier - IFP, Solaize)
     Nécessités et difficultés d'observation des silices nanoporeuses (B. Yriex / B. Morel, EDF R&D / CEA-DAM )
     Archéocosmétique et particules (Ph. Hallegot, L'Oreal - Aulnay)
     Aciers à grains ultra fins (G. Dirras - LPMTM, Paris XIII)
     Hyperdeformation d'alliages de Cu et d' Al par ECAE (T. Baudin, ICMMO - Paris XI)
     Chimie douce, méthodes de compaction (HIP, SPS) et nanostructuration de matériaux inorganiques (N. Jouini - LPMTM, Paris XIII)
     Matériaux nanostructurés pour l'énergie: microstructure et défauts (Ph. Knauth - Aix-Marseille I)
     Nouveaux matériaux carbonés nanostructurés: Application au stockage d'énergie (C. Vix - Univ Mulhouse)
     L'absorption X sous rayonnement synchrotron : une technique puissante pour la caractérisation des nanomatériaux (L. Khouchaf - Mines-Douai)
     Nanogénérateur d'électricité à base de nanofils ZnO (Y. Leprince - Marne la Vallée)
     Caractérisation de particules dans les verres (H.Montigaud - Saint Gobain)
     Propriétés électroniques et électromagnétiques de nanocomposites conducteurs (J.L. Wojkiewicz - Mines-Douai)
     Electrolytes solides nanocristallins à base d'oxyde de bismuth (R.N. Vannier - UCCS, ENSCL,Villeneuve d'Ascq)
 

Présentations de la réunion de novembre 2007 à Paris :

Préparation des échantillons pour les observations en MEB et les analyses
     Introduction (Jacky Ruste)
     Découpe des matériaux durs (Rémy Chiron - LPMTM Villetaneuse)
     Techniques d'enrobage (Sonia Achard - Technocentre Renault Guyancourt)
     Polissage mécanique (François Grillon - Mines Paris ParisTech Evry)
     Décapage et attaques métallographiques (Florence Le Strat - Renault Guyancourt)
     Nettoyage et décontamination (Frédéric Charlot - CMTC - St Martin d'Hères)
     Polissage ionique (Marco Cantoni - EPFL / CIME Lausanne-CH)
     Préparation des échantillons minces en MEB (Luc Beaunier - Université Paris VI)
     Systèmes de fixation (Jacky Ruste)
     Problématique du stockage (Christian Mathieu - Université d'Artois)
     Métallisation des échantillons (François Brisset - Université Paris XI)
     Techniques de marquage des surfaces (Amanda Martinez-Gil - LPL Villetaneuse)
     Préparation des matériaux mous (Alain Jadin - CERTECH Seneffe-B)
      

Textes ou présentations de la réunion de juin 2007 à Grenoble  :

Nouveaux développements techniques
     Aberration Corrected Electron Microscopy - A Kirkland
     Microscopie Raman stimulée CARS - H Rigneault
     X-ray Photo-Emission Electron Microscopy - O Renault
     Le Wet-STEM, imagerie en transmission dans un ESEM - A Bogner
     Imagerie 3D a l'échelle atomique - B Deconihout
     Correcteur d'astigmatisme dans un MEB - J Larnould
     La technique LEXES appliqué aux semi-conducteurs - R Benbalagh
     Analyses combinées WDS/EDS au MEB - D Balloy
     EBSD à haute température - A Wauthier

Mesure des textures, déformations et contraintes
     Elastic strain measurement from analysis of EBSD patterns - D.J.Dingley
     Automated Crystal Orientation Mapping with a TEM - E Rauch
     Determination of local elastic strain by using EBSD - R Fortunier
     TEMStrain: software for elastic strain determination - A Morawiec
     Détermination des contraintes par diffraction de Kossel - P Gergaud
     Orientation maps and phase determination in a TEM - D.J.Dingley
     Evolution des textures de déformation - A L Etter
     Cartes EBSD dans les microstructures restaurées - F Esposito
     Recristallisation dans un alliage de zirconium par EBSD - K Zhu

Imagerie 3D et reconstruction
     Mapping by cryoelectron tomography - W Baumeister
     Sectionnement optique et tomographie - Y Usson
     3D-orientation microscopy in a FIB-SEM - S Zaefferer
     Tomographie en contraste STEM-HAADF - L Laffont
     Reconstruction 3D à partir d'images MEB et micro optique sériée - D.Boivin
     Structure anisotrope des surfaces de rupture - E Bouchaud
     Microscopie confocale - échantillons biologiques - A Colonna
     Suivi de joints de grains par AFM - M A Prévost
     Caractérisation de dépôts nanométriques par réflectivité des rayons X - C Sant
     Chromatisme axial en lumière blanche, métrologie optique des surfaces - S Carras
     Organisation d'un centre commun de Microscopie, démarche qualité - B Gaillard-Martinie

Textes ou présentations de la réunion de décembre 2006 à Jussieu :

Techniques associées au MEB
     Micro-XRF excitation in an SEM - M.Haschke
     Essais in-situ en MEB - E.Héripré, J.Crépin
     Caractérisation automatique des inclusions - E.Hénault
     Quantitative study of the transition layers - H.Maury
     Optique ionique dans un nanoSIMS - T.Wirtz
     La microlithographie, le FIB et ses applications* - T.Fournier

Applications Biologiques
     Apports du FIB en biologie végétale (texte) - D.LeThiec
     NanoSIMS et biologie (texte) - JL.Guerquin-Kern
     Nouvelles applications biologiques du TOF-SIMS - A.Brunelle
     Mise en place de la démarche qualité - B.Gaillard-Martinie
     Effets antibactériens d'huiles essentielles* (texte)- L.Mayaud
     Tomographie électronique - C.Messaoudi
     Microscopie à fluorescence et cryo-tomographie**- A.Sartori
     Microscopie multiphotonique: principes et applications - A.Colonna

Textes ou présentations de la réunion de décembre 2005 à Jussieu :

La microanalyse X par sonde électronique
     Production et caractéristique du rayonnement X - Ch.Bonnelle
     Statistique en microanalyse - J. Ruste
     Les spectromètres WDS - F.Robaut
     Le traitement des spectres WDS - C.Merlet
     Miroirs multicouches - J.M.André
     Les spectromètres EDS - L.Maniguet
     Le traitement des spectres EDS - D.Boivin
     Les méthodes de quantification - J.L.Pouchou
     Pression controlée et analyse EDS - L.Khouchaf
     Les images X - A.Malchère
     L'analyse combinée EDS WDS - J.F.Thiot
     Détecteurs cryo de type bolomètre - E.Leblanc
     Résultats échantillons test - J.Ruste

Textes ou présentations de la réunion de juillet 2005 à Caen :

Dégradation et vieillissement des matériaux
     Contrastes électrons transmis - F.Grillon (1180 Ko)
     Mécanismes de corrosion - J.Ruste (6160 Ko)
     Corrosion bactérienne - F.Feugeas (3040 Ko)
     Turbine moteur d'avion - M.H.Vidal-Setif (5890 Ko)
     Joints de grains 3D *- M.Cornen (14290 Ko)
     Dégradation des pierres - S.Guedon-Dubied (6130 Ko)
     Altération des verres - Frugier (5980 Ko)
     Armatures métalliques - M.Bach (7320 Ko)
     Polymères - C.Dubois (6040 Ko)

Textes ou présentations de la réunion de décembre 2004 à Jussieu :

Les électrons dans le MEB
1/ Production :
      B.VuThien 1_mécanismes (2650 Ko)
      B.VuThien 2_NanoCarbon *(15040 Ko)
      B.VuThien 3_SSE (4050 Ko)
2/ Transport :
      J.Ruste (320 Ko)
     3/ Interactions :
     B.Gruzza (260 Ko)
     C.Bonnelle (340 Ko)
     J.L.Pouchou (370 Ko)

Textes de la réunion thématique de mai 2004 :

Microscopies et Microanalyses des matériaux mous et biologiques
     L'Oreal - mai 2004 (5800 Ko)