Publications / bibliographie
MACROCOSMOS, de Stephan Borensztajn et Claire Villemant (Parution le 17 novembre 2022, chez EDP Sciences)
La microscopie électronique à balayage sous environnement gazeux (MEB-EG) – Du principe à l’étude optimisée des matériaux, par Lahcen Khouchaf et Christian Mathieu (Paru aux éditions Ellipses)
Histoire de CAMECA (1954-2009), par E. de Chambost
Caractérisation microstructurale des Matériaux – Analyse par les rayonnements X et électronique, par Claude ESNOUF
Les isolants – Physique de la localisation des porteurs de charge – Applications aux phénomènes d‘endommagement, par Christiane BONNELLE, Guy BLAISE, Claude LE GRESSUS, Daniel TRÉHEUX
Guide de préparation des échantillons pour la Microscopie électronique en transmission
Articles sur l'historique de la microanalyse X
* Les articles sont uniquement accessibles aux adhérents du GN-MEBA.
The Time of Pioneers, de J. Philibert (Microsc. Microanal. 7, 94-99, 2001)
X-ray Crystal Spectrometers and Monochromators in Microanalysis, de D.B. Wittry, N.C. Barbi (Microsc. Microanal. 7, 124-141, 2001)
Point-by-point Chemical Analysis by X-ray Spectroscopy, Electronic Microanalyser, de R. Castaing, A. Guinier (Analytical Chemistry, vol. 25 n°5, 1953)
Thèse : Application des sondes électroniques à une méthode d’analyse ponctuelle chimique et cristallographique / en anglais, de R. Castaing (Thèse, 1-92, 1951)
X-Ray microanalysis of stratified specimens, de JL Pouchou (Analytica Chimica Acta, 283, 81-97, 1993)
X-Ray microanalysis of Thin Surface Films and Coatings, de JL Pouchou (Mikrochim. Acta, 138, 133-152, 2002)
Analyse d’échantillons stratifiés, de JL Pouchou (Livre rouge ANRT)
Un nouveau modèle de calcul pour la microanalyse quantitative par spectrométrie de rayons X partie II : application à l’analyse d’échantillons hétérogènes en profondeur, de JL Pouchou, F.Pichoir (La recherche aérospatiale, n°5, 349-367, 1984)
Les éléments très légers en microanalyse X : possibilités des modèles récents de quantification, de JL Pouchou, F.Pichoir (J. Microsc. Spectrosc. Electron., vol.11, 229-250, 1986)
The Golden Age of Microanalysis, de K.F.J. Heinrich (Microsc. Microanal. 7, 108–118, 2001)
Quantitative Electron Probe Microanalysis of carbon in binary carbides, de G.F. Bastin, H.J.M. Heijligers (Xray spectrometry, vol. 15, 135-141, 1986)
Petite histoire de la microanalyse X, de François Grillon, Jacky Ruste (Powerpoint)
Colloque sur la Microanalyse à sonde électronique (ANRT, 1972)
Le dosage des éléments légers par le microanalyseur à sonde électronique, de R. Castaing, J. Descamps (La recherche aéronautique, N°63, 41-51, 1958)
Sur les bases physiques de l’analyse ponctuelle par spectrographie X, de R. Castaing, J. Descamps (J. de Phys. et de Radium, 16, 304-317, 1955)
Electron Probe Microanalysis, de R. Castaing (317-386)
Pénétration des électrons et correction de l’effet de numéro atomique en microanalyse par sonde électronique, de R. Tixier et J. Philibert (IRSID, Re.Phy.Ap. 236, 1-24, 1967)
Electron penetration and the atomic effect correction in electron probe microanalysis, de R. Tixier et J. Philibert (IRSID, Re.Phy.Ap. 234, 1-17, 1967)
Lentille corrigée de l’astigmatisme et son utilisation pour l’obtention de sonde de grande brillance, de R. Castaing (Ed. de la Revue d’Optique, 148-154, 1952)
Sur l’exploitation et l’analyse élémentaire d’un échantillon par une sonde électronique, de R. Castaing, A. Guinier (Ed. de la Revue d’Optique, 391-397, 1952)
Méthode d’analyse cristallographique ponctuelle, de R. Castaing, A. Guinier (C.R. Académie des Sciences, 232, 1948-1950, 1951)
Sur la répartition en profondeur de l’émission X d’une anticathode, de R. Castaing, J. Descamps (C.R. Académie des Sciences, 237, 1220-1222, 1953)
Sur la contamination des échantillons dans le microanalyseur à sonde électronique, de R. Castaing, J. Descamps (C.R. Académie des Sciences, 238, 1506-1508, 1954)
Microanalysis by means of an electron-probe principle and corrections, de R. Castaing (ONERA, 34, 305-308)
Applications of the electron probe microanalyzer, de R. Castaing (ONERA, 35, 309-313)
Some problems with quantitative electron probe microanalysis, de J. Philibert, R. Tixier (IRSID, 13-33)
Degré de cohérence de la diffusion électronique par interaction électron-phonon, de R. Castaing, P. Hénoc, L. Henri, M. Natta (C.R. Académie des Sciences, 265, 1293-1296, 1967)
Influence de la diffusion inélastique sur les contrastes de diffraction électronique, de R. Castaing, A. El Hili, L. Henry (C.R. Académie des Sciences, 262, 169-172, 1966)
Le microanalyseur à sonde électronique, de R. Castaing (Revue de Métallurgie, L, 9, 622-628, 1953)
Electron probe microanalyzer and its application to ferrous metallurgy, de R. Castaing, J. Philibert, C. Crussard (J. of metals, 389-394, 1957)
Electron penetration and the atomic number correction in electron probe microanalysis, de J. Philibert, R. Tixier (Brit. J. Appl. Phys., 2, 1, 685-694, 1968)
Microsonde et microscope à balayage, de J. Philibert, R. Tixier (Chap. 25, 419-432)
Application du microanalyseur à sonde électronique à la recherche sidérurgique, de J. Philibert, C. Crussard (Revue de Métallurgie,6, 461-470, 1956)
Analyse des précipités extraits sur répliques, à l’aide d’un microanlyseur classique et d’une microanalyseur équipé d’un microscope électronique, de M.Ancey, G. Henry, J. Philibert, R. Tixier (Ve congrès on X-Ray optics and microanalysis, Tubingen, 510-518, 1968)
Contrastes de domaines magnétiques dans le fer-silicium observés en microscopie à balayage, de A. Gervais, J. Philibert, A. Rivière, R. Tixier (Revue de Physique Appliquée, 9, 433-441, 1974)
Application des sondes électoniques à l’analyse de la matière, de J. Philibert (Revue de Physique Appliquée, 264, 1-26, 1967)
A Kossel camera designed for the cameca electron probe microanalyser, de F. Maurice, J. Philibert, R. Seguin, R. Tixier (J. of applied crystallography, 8, 287-291, 1975)
Analyse quantitative d’échantillons minces, de R. Tixier, J. Philibert (Ve congrès on X-Ray optics and microanalysis, 180-186, 1969)
Microanalyse X des lames minces en microscopie electronique, de R. Tixier( J. Microsc. Spectrosc. Electron., 4, 295-304, 1979)
Microanalyse X en microscopie électronique en transmission, de R.Tixier (Microscopie électronique en science des matériaux, Bombannes, chap. 27, 513-538, 1981)
Féérie multicolore au service des métallurgistes (Sciences et Avenir, 130, 628-633, 1957)
Les chercheurs de la sidérurgie, que font-ils (Lorraine magazine, 54, 14-18, 1959)
Les récents développements de l’analyse ponctuelle par spectrographie X, de R. Castaing (Laboratoires, 17, 7-13, 1956)
Application des sondes électroniques à l’analyse métallographique, de R. Castaing, A. Guinier. (Proc. Conf. on Electron Microscopy, Delft, The Netherlands, pp. 60-63, 1949)
The legacy of R. Castaing, de F Grillon, J. Philibert (Mikrochim. Acta 138, p. 99-104, 2002)
The “father” of microanalysis: Raymond Castaing, creator of ageneration of scientific instruments, still in worldwide operation, de C. Colliex (CR Phys. Vol. 20 (7–8), p. 746-755, 2019)
Electron Probe Microanalysis: A Review of the Past, Present, and Future, de R. Rinaldi, X. Llovet (Microsc. Microanal. 21 (5), 1053-1069, 2015)
Microanalyse par émission ionique secondaire, de R. Castaing, G. Slodzian (J. Microscopie, 1, pp. 395-410, 1962)
Modélisation de la production du rayonnement X caractéristique par impact électronique dans les solides-application à la nano-analyse quantitative des multimatériaux, de P.F. Staub (Thèse, 1995)
