Ouvrages scientifiques

Travaux pratiques de microscopie électronique à balayage et de microanalyse X

1994 * 152 pages
ISBN 2.900.19521.7
LD5217

(Publication épuisée)

Résumé

Cet ouvrage constitue un compte-rendu des travaux pratiques de l’école d’été organisée conjointement par le groupement N°8 de l’ANRT et le Club MEB de Toulouse, dans les locaux de l’INSA à Toulouse (27 août-8 septembre 1990). Sont d’abord développés les aspects instrumentaux en microscopie à balayage et en microanalyse X (colonne électronique, formation de la sonde électronique, automatisation, optimisation des images, acquisition des spectres X). L’observation au MEB, l’analyse qualitative et quantitative de différents types d’échantillons sont présentées (échantillons géologiques, archéologiques, particules et fibres, échantillons isolants). D’autres techniques de microscopie analytique sont aussi traitées : la spectrométrie de perte d’énergie d’électrons (EELS), la cathodoluminescence et le courant induit dans les semiconducteurs.

Sommaire

  • Colonne électronique, formation de la sonde (P. CHOMEL, INSA Toulouse)
  • Automatisation du MEB (R. MOLINS, INPG, St Martin d’Hères)
  • Optimisation de l’image en MEB (J. GARDEN, J.M. CHAIX, M. LABEAU, INPG, St Martin d’Hères)
  • Acquisition des spectres en spectrométrie X (F. GRILLON, EMP, Evry)
  • Analyse X quantitative, méthodes de Monte-carlo (J. HENOC, Caméca, F. MAURICE, CEA Saclay)
  • Microanalyse X sur échantillons massifs isolants (M. FIALIN, Univ. P.M. Curie, Paris)
  • Migration des ions alcalins dans les isolants (F. AUTEFAGE, INSA Toulouse)
  • Le MEB dans les sciences de la terre (P. BLANC, Univ. P.M. Curie, Paris)
  • Le MEB dans les matériaux des oeuvres d’art (A. DUVAL, Lab. Recherches Musées de France, Paris)
  • Analyse de particules et de fibres par MEB et analyse X (T. JALANTI, Microscan, Lausanne)
  • Spectroscopie de pertes d’énergie en mode STEM (Y. KIHN, J. SEVELY, R. FOURMEAUX, CEMES.LOE, Toulouse)
  • Cathodoluminescence dans les semiconducteurs (J.F. BRESSE, CNET Bagneux, A. RIVIERE, CNRS Meudon) .
  • Courant induit (EBIC) dans les semiconducteurs (B. SIEBER, Univ. Lille, B. AKAMATSU, CNET Bagneux)
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