Ouvrages scientifiques

Cet ouvrage constitue le deuxième volet de la série pédagogique consacrée à la microanalyse X par sonde électronique. Il regroupe les textes relatifs aux réunions des 15 et 16 janvier 1987 et des 10 et 11 décembre 1987 où ont été abordés les aspects quantitatifs. Les phénomènes physiques liés à l’interaction électron-matière et à l’émission X sont tout d’abord décrits par des simulations de Monte-Carlo. Les modèles de correction d’effets de matrice sont ensuite présentés dans le cas des échantillons massifs (plans ou rugueux) et en couches minces (avec ou sans support). L’ouvrage aborde également l’analyse sans témoins, le traitement des spectres (soustraction du fond continu, déconvolution des pics), la précision des mesures en relation avec la statistique de comptage. Les textes ont été rédigés avec le souci de privilégier les aspects pratiques et de ne pas négliger les difficultés expérimentales et les causes d’erreur.