François GRILLON nous a quitté mardi 11 janvier 2011, à l'âge de 62 ans

Domaines de compétences personnelles: . Microscopie électronique à balayage . Microanalyse X à dispersion de longueur d'onde . Microanalyse X à sélection d'énergie . Analyse d'images  . Couplages multitechniques   Domaines de recherche du Laboratoire: Comportement mecanique des matériaux, Modélisation du comportement, Corrosion, Elaboration par métallurgie des poudres, Dépôts plasma, Collage. Matériaux étudiés au Laboratoire: Aciers, Superalliges base Ni, Elastomères, Polymères, Céramiques, Fibres, Composites, Métallurgie des poudres.

Les moyens d'observation et d'analyse au Centre des Matériaux I Métallographie: - 2 tourets de polissage à deux postes SiC Rotopol Struers. - 1 polisseuse SiC grande vitesse DP-U Struers. - 2 tourets de polissage diamant DAP-7 Struers. - 1 touret de polissage alumine DAP-2 Struers. - 1 polisseuse automatique utilisant des disques durs LAM PLAN.  - 1 presse à enrober à chaud Struers.  - 1 tronçonneuse JPS. - 1 tronçonneuse Isomet Plus Buhler.  - 1 salle de chimie équipée de deux hottes, appareil à distiller, principaux acides, bases et solvants, polissage et attaque électrolytique. II Microscopie optique: - 1 loupe binoculaire Reichert. - 1 macroscope Wild. - 2 microscopes optique droits Leitz. - 1 microscope inversé Leitz avec équipement photo (2x12 et 24x36). - 2 bancs métallographiques inversés MEF2 de Reichert équipés de lumière polarisée, oblique, fond noir, fond clair, contraste interférentiel, microdureté. - 1 microscope optique Zeiss Axiovert 405 M inversé permettant de travailler en réflection ou en transmission, en fond clair ou en fond noir, en lumière polarisée, en contraste interférentiel équipé d'une caméra et d'un moniteur. - 2 microduromètres Leitz. - 2 macroduromètres Testwell. III Microscopie électronique à balayage et microanalyse X: - un microscope Hitachi S450 (1980), résolution nominale 7 nm, imagerie en électrons secondaires. Grandissements utiles: 30 à 20000. - un microscope Philips PSEM 501A (1979), résolution nominale 5 nm, imagerie en électrons secondaires, en électrons rétrodiffusés, en courant induit, en cathodoluminescence. Peut être équipe d'une platine de traction 1T ou d'un micro four 1500°. Est équipé d'un système de microanalyse X à sélection d'énergie, à fenêtre Be, Serie II Noran permettant des analyses qualitatives. Grandissements utiles: 20 à 40000. - un microscope Zeiss Gemini DSM 982 (1994), résolution nominale 1 nm à 20 kV et 4 nm à 1 kV, imagerie en électrons secondaires, en électrons rétrodiffusés, en courant induit. Il est équipé d'un ensemble permettant de mesurer l'orientation cristallographique (EBSP). Il est équipé d'un système de microanalyse X à sélection d'énergie avec détecteur Extreme sur station Voyager IV de Noran permettant des analyses semi-quantitatives. Grandissement utiles 50 à 400000. - une microsonde Cameca SX50 (1988) équipée de 4 spectromètres à dispersion de longueur d'onde et un spectromètre à sélection d'énergie TN 5500 de Noran permettant d'effectuer des microanalyses X quantitatives. - un évaporateur sous vide secondaire Edwards E 306. - un pulvérisateur cathodique Balzers SCD 40. - un évaporateur carbone Emscope TB 500. IV Analyse d'images: - deux analyseurs d'images Noran TN8502 (1988 et 1992) pouvant être connectés sur une caméra, un microscope optique, deux des meb (PSEM 501A et Gemini), la microsonde (SX50). - un microscope optique Nachet (1986). - un microscope optique confocal TSM de Noran (1994). V Photographie: - un appareil photographique Nikon F1  - un scanner Duoscan d'Agfa connecté sur un PC sous windows 95. - deux tireuses contact. - deux agrandisseurs. - deux rapido Agfa. - caméra vidéo HI 8