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mise à jour : 04/12/2021


Jussieu: plan du campus


Les dernières Journées Pédagogiques
ont eu lieu les 2 et 3 décembre 2021 ...


à Jussieu,  Amphi 25,
en "présentiel", presque* comme dans "la vie d'avant" !...


* masque obligatoire dans les amphis + pass-sanitaire pour la pause constructeurs
masqque obligatoire

Thème de ces Journées :

"Etat de l'art en Spectrométrie EDS et WDS :
Fondamentaux et développements"



                  Annonce                       Programme et résumés
Jeudi 2 décembre
09h00 - 09h30 -
Accueil des participants
09h30 - 10h00 -
Principe de l'émission X et de la spectrométrie EDS. Traitement des spectres et analyse quantitative en EDS - Sébastien PAIRIS, CNRS – Institut Néel, Grenoble (résumé)
10h00 - 10h30 - Résultats des analyses X de l'échantillon test - Jacky RUSTE (résumé)
10h30 - 14h00 -
Exposition Constructeurs  avec pause café et repas (buffet froid) offert aux adhérents du groupement par le GN-MEBA et les constructeurs - salle 102, 1er étage tour 44
14h00 - 14h30 -
STEM-EDS sur échantillon mince et Microanalyse du Li - Raynald GAUVIN, Université McGill, Canada (résumé)
14h30 - 15h00 -Résolution latérale en microanalyse EDS/WDS - Mikael PERRUT - ONERA/SIAM, Chatillon (résumé)
15h00 - 15h30 -
Analyse d'échantillons stratifiés - Florence ROBAUT, SIMaP, CMTC, Grenoble (résumé)
15h30 - 16h00 -
Pause
16h00 - 16h30 -  Contrôle de la qualité de synthèse d’un polymère par EDS - François ORANGE, CCMA, Université Côte d'Azur, Nice (résumé)
16h30 - 17h00 - 
Analyse EDS sur échantillon massif à mince par la méthode des zêta facteurs corrigée du φ(ρz) (code IZAC) - Eric ROBIN, CEA Grenoble (résumé)
17h00 - 17h30 - Analyse quantitative EDS : quelques biais liés à la correction d’absorption et l’émission délocalisée de RX par les électrons diffusés à grand angle. Un exemple : Si/TiN/HfO2/TiN - Philippe BUFFAT, EPFL, Lausanne (résumé)
Vendredi 3 décembre
09h00 - 09h30 -
Exemple d’utilisation d’une caméra CCD à sélection d’énergie (color camera) - Philippe JONNARD, Laboratoire de Chimie Physique - Matière et Rayonnement, Sorbonne Université (résumé)
09h30 - 10h00 -
Technologie WDS + SXES et développement des détecteurs à réseaux - Jean-Louis LONGUET, CEA Le Ripault
10h00 - 10h30 -
Assemblée Générale du GN-MEBA
10h30 - 11h00 -
Pause
11h00 - 11h30 -
L'analyse EDS en mode VP - Christian MATHIEU, Université d'Artois (résumé)
11h30 - 12h00 -
Analyses quantitatives comparées (fluorescence X, EDS, WDS) - Ida DI CARLO, ISTO, Orléans (résumé)
12h00 - 13h30 -
Déjeuner libre
13h30 - 14h15 -
EDS ou WDS ? Avec ou sans témoins ? Quelle méthode pour quel besoin en microanalyse ? - Guillaume WILLE, BRGM, Orléans (résumé)
14h15 - 15h00 -
Sources d'erreur en analyse X (optimisation des conditions opératoires) - Denis BOIVIN, ONERA Chatillon (résumé)
15h00 - 15h30 -
Statistique, calcul d'erreur, de limite de détection, d'intervalle de confiance en analyse X - Emmanuel CADEL, Université de Rouen (résumé)

FIN des Journées Pédagogiques