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2008 * 984 pages
ISBN : 978-2-7598-0082-7

Microscopie électronique à balayage et Microanalyses (erratum à télécharger)
(livre édité suite à  l'Ecole d'été du GN-MEBA de 2006 à St-Martin d'Hères-38)

SOMMAIRE

• Les interactions électron-matière (F. CHARLOT, CMTC-INP Grenoble et P. JONNARD, UPMC Paris)
• Le rayonnement X caractéristique, le rayonnement de freinage (P. JONNARD, UPMC Paris)
• Les canons à électrons (F. ROUSSEL, CMTC-INP Grenoble)
• Les éléments de l'optique électronique (J. RUSTE, EDF R&D Moret-sur-Loing)
• Les techniques du vide (J. RUSTE, EDF R&D Moret-sur-Loing)
• La détection des électrons (F. GRILLON, Mines Paris, Evry)
• La formation et l'optimisation de l’image en MEB (A. JADIN, CERTECH Seneffe, Belgique)
• Complément « Imagerie » (F. GRILLON, Mines Paris, Evry, F. ROUSSEL et F. CHARLOT, CMTC-INP Grenoble)
• Les microscopes à pression contrôlée (C. MATHIEU, Univ. d’Artois et M. REPOUX, Mines Paris, Sophia-Antipolis)
• Complément « MEB PC » (C. MATHIEU, Univ. d’Artois, M. REPOUX, Mines Paris, Sophia-Antipolis, R. PASSAS, Pagora Grenoble et G. THOLLET, INSA Lyon)
• Le spectromètre de rayons X à sélection d’énergie (EDS) : aspects technologiques (J. RUSTE, EDF R&D Moret-sur-Loing, F. BRISSET,Univ. Paris 11, A. MALCHERE, INSA Lyon et L. MANIGUET, CMTC-INP Grenoble)
• Complément « EDS » (F. BRISSET, Univ. Paris11 et D. BOIVIN, ONERA Chatillon)
• Complément « Cartographie X EDS » (A. MALCHERE, INSA Lyon et Ch. GENDARME, Mines Nancy)
• Les aspects technologiques de la spectrométrie à dispersion de longueur d'onde (WDS) (A. CRISCI, CMTC-INP Grenoble et J. RUSTE, EDF R&D Moret-sur-Loing)
• Les spectrométries EDS et WDS : traitement des spectres (J. RUSTE, EDF R&D Moret-sur-Loing)
• Les méthodes de quantification en microanalyse X (J.L. POUCHOU, ONERA Chatillon)
• Complément "WDS" (J. RUSTE, EDF R&D Moret-sur-Loing)
• Les statistiques : précision et limites de détection en microanalyse (F. ROBAUT, CMTC-INP Grenoble)
• L'analyse d’échantillons stratifiés (J.L. POUCHOU, ONERA Chatillon)
• La cristallographie appliquée à l'EBSD (T. BAUDIN, A.L. ETTER, Univ. Paris11)
• L'EBSD : historique, principe et applications (T. BAUDIN et F. BRISSET, Univ. Paris11)
• Complément « EBSD » (F. BRISSET, Univ. Paris11)
• La simulation de Monte Carlo (J.L. POUCHOU, ONERA Chatillon)
• Les échantillons isolants (J. CAZAUX, Fac des Sciences Reims)
• Complément « Matériaux isolants » (A. JADIN, CERTECH Seneffe, Belgique et M. BETBEDER, Mines Paris, Evry)
• Complément « Métallisation » (F. ROUSSEL, CMTC-INP Grenoble)
• Les échantillons biologiques (P. HALLEGOT, L’OREAL Aulnay-sous-Bois et J.P. LECHAIRE, UPMC Paris)
• Complément « Echantillons biologiques » (J.P. LECHAIRE, UPMC Paris et D. DUPEYRE, CERMAV Grenoble)
• Les images 3D (D. BOIVIN et J.L. POUCHOU, ONERA Chatillon)
• Complément « Imagerie 3D » (D. BOIVIN, ONERA Chatillon)
• L'analyse d’images (J.M. CHAIX et J.M. MISSIAEN, SIMAP-INPG Grenoble)
• Le MEB STEM (F. GRILLON, Mines Paris, Evry et F. CHARLOT, CMTC-INP Grenoble)
• Les essais mécaniques in-situ (R. CHIRON, LPMTM-Univ. Paris 13)
• L'entretien du MEB (F. GRILLON, Mines Paris, Evry)
• La qualité et la normalisation (F. GRILLON, Mines Paris, Evry)
• La place du MEB dans les techniques expérimentales (J. RUSTE, EDF R&D Moret-sur-Loing)
• Le FIB (G. AUVERT, CEA-LETI Grenoble, J. RUSTE, EDF R&D Moret-sur-Loing et M. REPOUX, Mines Paris, Sophia-Antipolis)
• Une introduction à la microscopie électronique en transmission (P. DONNADIEU, INPG Grenoble)
• La microanalyse X sur échantillons minces (J. RUSTE, EDF R&D Moret-sur-Loing)
• Une introduction à la cathodoluminescence (F. DONATINI, Univ. J. Fourier Grenoble)
• Une introduction à la spectrométrie Raman (A. CRISCI, CMTC-INP Grenoble)

La microscopie électronique à balayage et les microanalyses associées sont impliquées dans des domaines extrêmement variés, aussi bien dans les milieux académiques que dans les milieux industriels. L'ensemble des bases théoriques, les principales caractéristiques techniques, ainsi que des compléments pratiques d'utilisation et d'entretien liés à ces disciplines sont développés dans cet ouvrage. Les microscopes électroniques sous haut vide ou vide contrôlé sont exposées profondément, les microanalyses EDS et WDS de dernières générations également. A coté de ces piliers structurants, d'autres techniques d'analyse ou d'observation sont abordées, telles l'analyse EBSD et l'imagerie 3D, le FIB, les simulations de Monte-Carlo et les essais in-situ, etc.
Ce volume en langue française, unique, est la version actualisée, et totalement refondue d'une précédente édition de 1979 aujourd'hui épuisée. Il regroupe les cours dispensés lors de l'école d'été de Saint Martin d'Hères en 2006, organisée par le Groupement National de Microscopie Électronique à Balayage et de microAnalyses (GN-MEBA).
Ce livre est particulièrement recommandé aux expérimentateurs mais intéressera aussi les spécialistes en science des matériaux (durs ou mous, conducteurs ou non-conducteurs, stratifiés, etc.) désireux de s'investir dans toutes ces techniques d'imagerie et d'analyse, afin d'en exploiter pleinement les forts potentiels. Il a été écrit par les enseignants de l'école d'été, tous chercheurs ou ingénieurs et spécialistes dans leur domaine.