|
TITRE
|
AUTEURS
|
Références
|
1
|
The Time of Pioneers
|
J. Philibert
|
Microsc. Microanal. 7, 94-99, 2001
|
2
|
X-ray Crystal Spectrometers and
Monochromators in Microanalysis
|
D.B. Wittry, N.C. Barbi
|
Microsc. Microanal. 7, 124-141, 2001
|
3
|
Point-by-point Chemical Analysis by
X-ray Spectroscopy, Electronic Microanalyser
|
R. Castaing, A. Guinier
|
Analytical Chemistry, vol. 25 n°5, 1953
|
4
|
Thèse : Application des sondes électroniques à une méthode
d'analyse ponctuelle chimique et cristallographique / en anglais
|
R. Castaing
|
Thèse, 1-92, 1951
|
5
|
X-Ray microanalysis of stratified
specimens
|
JL Pouchou
|
Analytica Chimica Acta, 283, 81-97, 1993
|
6
|
X-Ray microanalysis of Thin Surface
Films and Coatings
|
JL Pouchou
|
Mikrochim. Acta, 138, 133-152, 2002
|
7
|
Analyse d'échantillons stratifiés
|
JL Pouchou
|
livre rouge ANRT
|
8
|
Un nouveau modèle de calcul pour la microanalyse quantitative
par spectrométrie de rayons X partie II : application à l'analyse
d'échantillons hétérogènes en profondeur
|
JL Pouchou, F.Pichoir
|
La recherche aérospatiale, n°5, 349-367, 1984
|
9
|
Les éléments très légers en microanalyse X : possibilités des
modèles récents de quantification
|
JL Pouchou, F.Pichoir
|
J. Microsc. Spectrosc. Electron., vol.11, 229-250, 1986
|
10
|
The Golden Age of Microanalysis
|
K.F.J. Heinrich
|
Microsc. Microanal. 7, 108–118, 2001
|
11
|
Quantitative Electron Probe
Microanalysis of carbon in binary carbides
|
G.F. Bastin, H.J.M. Heijligers
|
Xray spectrometry, vol. 15, 135-141, 1986
|
12
|
Petite histoire de la microanalyse X
|
François Grillon, Jacky Ruste
|
Powerpoint
|
13
|
Colloque sur la Microanalyse à sonde électronique
|
|
ANRT, 1972
|
14
|
Le dosage des éléments légers par le microanalyseur à sonde
électronique
|
R. Castaing, J. Descamps
|
La recherche aéronautique, N°63, 41-51, 1958
|
15
|
Sur les bases physiques de l'analyse ponctuelle par
spectrographie X
|
R. Castaing, J. Descamps
|
J. de Phys. et de Radium, 16, 304-317, 1955
|
16
|
Electron Probe Microanalysis
|
R. Castaing
|
317-386
|
17
|
Pénétration des électrons et correction de l'effet de numéro
atomique en microanalyse par sonde électronique
|
R. Tixier et J. Philibert
|
IRSID, Re.Phy.Ap. 236, 1-24, 1967
|
18
|
Electron penetration and the atomic
effect correction in electron probe microanalysis
|
R. Tixier et J. Philibert
|
IRSID, Re.Phy.Ap. 234, 1-17, 1967
|
19
|
Lentille corrigée de l'astigmatisme et son utilisation pour
l'obtention de sonde de grande brillance
|
R. Castaing
|
Ed. de la Revue d'Optique, 148-154, 1952
|
20
|
Sur l'exploitation et l'analyse élémentaire d'un échantillon par
une sonde électronique
|
R. Castaing, A. Guinier
|
Ed. de la Revue d'Optique, 391-397, 1952
|
21
|
Méthode d'analyse cristallographique ponctuelle
|
R. Castaing, A. Guinier
|
C.R. Académie des Sciences, 232, 1948-1950, 1951
|
22
|
Sur la répartition en profondeur de l'émission X d'une
anticathode
|
R. Castaing, J. Descamps
|
C.R. Académie des Sciences, 237, 1220-1222, 1953
|
23
|
Sur la contamination des échantillons dans le microanalyseur à
sonde électronique
|
R. Castaing, J. Descamps
|
C.R. Académie des Sciences, 238, 1506-1508, 1954
|
24
|
Microanalysis by means of an
electron-probe principle and corrections
|
R. Castaing
|
ONERA, 34, 305-308,
|
25
|
Applications of the electron probe
microanalyzer
|
R. Castaing
|
ONERA, 35, 309-313
|
26
|
Some problems with quantitative electron
probe microanalysis
|
J. Philibert, R. Tixier
|
IRSID, 13-33
|
27
|
Degré de cohérence de la diffusion électronique par interaction
électron-phonon
|
R. Castaing, P. Hénoc, L. Henri, M. Natta
|
C.R. Académie des Sciences, 265, 1293-1296, 1967
|
28
|
Influence de la diffusion inélastique sur les contrastes de
diffraction électronique
|
R. Castaing, A. El Hili, L. Henry
|
C.R. Académie des Sciences, 262, 169-172, 1966
|
29
|
Le microanalyseur à sonde électronique
|
R. Castaing
|
Revue de Métallurgie, L, 9, 622-628, 1953
|
30
|
Electron probe microanalyzer and its
application to ferrous metallurgy
|
R. Castaing, J. Philibert, C. Crussard
|
J. of metals, 389-394, 1957
|
31
|
Electron penetration and the atomic
number correction in electron probe microanalysis
|
J. Philibert, R. Tixier
|
Brit. J. Appl. Phys., 2, 1, 685-694, 1968
|
32
|
Microsonde et microscope à balayage
|
J. Philibert, R. Tixier
|
Chap. 25, 419-432
|
33
|
Application du microanalyseur à sonde électronique à la
recherche sidérurgique
|
J. Philibert, C. Crussard
|
Revue de Métallurgie,6, 461-470, 1956
|
34
|
Analyse des précipités extraits sur répliques, à l'aide d'un
microanlyseur classique et d'une microanalyseur équipé d'un microscope
électronique
|
M.Ancey, G. Henry, J. Philibert, R. Tixier
|
Ve congrès on X-Ray optics and
microanalysis, Tubingen, 510-518, 1968
|
35
|
Contrastes de domaines magnétiques dans le fer-silicium observés
en microscopie à balayage
|
A. Gervais, J. Philibert, A. Rivière, R. Tixier
|
Revue de Physique Appliquée, 9, 433-441, 1974
|
36
|
Application des sondes électoniques à l'analyse de la matière
|
J. Philibert
|
Revue de Physique Appliquée, 264, 1-26, 1967
|
37
|
A Kossel camera designed for the cameca
electron probe microanalyser
|
F. Maurice, J. Philibert, R. Seguin, R. Tixier
|
J. of applied crystallography, 8, 287-291, 1975
|
38
|
Analyse quantitative d'échantillons minces
|
R. Tixier, J. Philibert
|
Ve congrès on X-Ray optics
and microanalysis, 180-186, 1969
|
39
|
Microanalyse X des lames minces en microscopie electronique
|
R. Tixier
|
J. Microsc. Spectrosc. Electron., 4, 295-304, 1979
|
40
|
Microanalyse X en microscopie électronique en transmission
|
R.Tixier
|
Microscopie électronique en science des matériaux, Bombannes,
chap. 27, 513-538, 1981
|
41
|
Féérie multicolore au service des métallurgistes |
|
Sciences et Avenir, 130, 628-633, 1957
|
42
|
Les chercheurs de la sidérurgie, que font-ils
|
|
Lorraine magazine, 54, 14-18, 1959
|
43
|
Les récents développements de l'analyse ponctuelle par
spectrographie X
|
R. Castaing
|
Laboratoires, 17, 7-13, 1956
|
44
|
Application des sondes électroniques à l'analyse
métallographique
|
R. Castaing, A. Guinier.
|
Proc. Conf. on Electron Microscopy,
Delft, The Netherlands, pp. 60-63, 1949
|
45
|
The legacy of R. Castaing
|
F Grillon, J. Philibert
|
Mikrochim. Acta 138, p. 99-104, 2002
|
46
|
The “father” of microanalysis: Raymond
Castaing, creator of ageneration of scientific instruments, still in
worldwide operation
|
C. Colliex
|
CR Phys. Vol. 20 (7–8), p. 746-755, 2019
|
47
|
Electron Probe Microanalysis: A Review
of the Past, Present, and Future
|
R. Rinaldi, X. Llovet
|
Microsc. Microanal. 21 (5), 1053-1069, 2015
|
48
|
Microanalyse par émission ionique secondaire
|
R. Castaing, G. Slodzian
|
J. Microscopie, 1, pp. 395-410, 1962
|
49
|
Modélisation de la production du rayonnement X caractéristique par impact électronique dans les solides-application à la nano-analyse quantitative des multimatériaux |
P.F. Staub |
Thèse, 1995 |
